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秩和非参数检测器在杂波边缘中的性能

孟祥伟

引用本文: 孟祥伟. 秩和非参数检测器在杂波边缘中的性能[J]. 电子与信息学报, doi: 10.11999/JEIT190136 shu
Citation:  Xiangwei MENG. Performance of Rank Sum Nonparametric Detector at Clutter Edge[J]. Journal of Electronics and Information Technology, doi: 10.11999/JEIT190136 shu

秩和非参数检测器在杂波边缘中的性能

    作者简介: 孟祥伟: 男,1966年,教授、博士生导师,研究方向为雷达信号检测理论
    通讯作者: 孟祥伟,mengxw163@sina.com
  • 基金项目: 国家自然科学基金(61179016)

摘要: 人们常用Rohling教授提出的3种典型背景即均匀背景、多目标和杂波边缘来对检测器的恒虚警率(CFAR)进行衡量,但在现有的文献中缺乏秩和(RS)非参数检测器在杂波边缘中虚警概率的解析表达式,缺乏RS检测器与经典的参量型检测器在杂波边缘中虚警控制能力的比较,这在理论研究上是不完整、不全面的。该文给出了RS检测器在杂波边缘中虚警概率的解析表达式,并比较了它与非相干积累单元平均(CA),选大(GO)和有序统计(OS)恒虚警方法在杂波边缘的虚警控制能力。可以看出,在强、弱杂波均为瑞利分布的情况下,RS检测器在杂波边缘的虚警控制能力处于非相干积累CA方法和非相干积累OS方法之间。但是当长拖尾分布的非高斯杂波进入参考滑窗时,非相干积累CA, GO和OS参量型检测方法的虚警概率都产生了3个以上数量级的上升,且不能回到原始设定的虚警概率。而RS检测器显示出了非参量检测器的优势,即当杂波背景的分布类型发生变化后,它仍然可以保持虚警概率的恒定。

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图(6)
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  • 通讯作者:  孟祥伟, mengxw163@sina.com
  • 收稿日期:  2019-03-11
  • 录用日期:  2019-06-12
  • 网络出版日期:  2019-08-23
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
  • 1. 

    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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