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关于非对称含错学习问题的困难性研究

张江 范淑琴

引用本文: 张江, 范淑琴. 关于非对称含错学习问题的困难性研究[J]. 电子与信息学报, doi: 10.11999/JEIT190685 shu
Citation:  Jiang ZHANG, Shuqin FAN. On the Hardness of the Asymmetric Learning With Errors Problem[J]. Journal of Electronics and Information Technology, doi: 10.11999/JEIT190685 shu

关于非对称含错学习问题的困难性研究

    作者简介: 张江: 男,1986年生,副研究员,主要研究方向为基于格的密码协议及其可证明安全;
    范淑琴: 女,1978年生,教授,主要研究方向为基于格的密码分析
    通讯作者: 张江,jiangzhang09@gmail.com
  • 基金项目: 国家重点研发计划(2017YFB0802005, 2018YFB0804105),国家自然科学基金(61602046, 61932019),中国科协“青年人才托举工程”(2016QNRC001)

摘要: 由于基于最坏情况困难假设等优点,基于格的密码被认为是最具前景的抗量子密码研究方向。作为格密码的常用的两个主要困难问题之一,含错学习(LWE)问题被广泛用于密码算法的设计。为了提高格密码算法的性能,Zhang等人(2019)提出了非对称含错学习问题,该文将从理论上详细研究非对称含错学习问题和标准含错学习问题关系,并证明在特定错误分布下非对称含错学习问题和含错学习问题是多项式时间等价的,从而为基于非对称含错学习问题设计安全的格密码算法奠定了理论基础。

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  • 通讯作者:  张江, jiangzhang09@gmail.com
  • 收稿日期:  2019-09-14
  • 录用日期:  2019-11-20
  • 网络出版日期:  2019-11-29
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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