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-Si∶H膜中反常瞬态响应的光谱影响

海宇涵 周忠毅

海宇涵, 周忠毅. -Si∶H膜中反常瞬态响应的光谱影响[J]. 电子与信息学报, 1985, 7(2): 108-113.
引用本文: 海宇涵, 周忠毅. -Si∶H膜中反常瞬态响应的光谱影响[J]. 电子与信息学报, 1985, 7(2): 108-113.
Hai Yuhan, Zhou Zhongyi. SPECTRA EFFECTS OF ANOMALOUS TRANSIENT RESPONSE IN -Si:H FILM[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1985, 7(2): 108-113.
Citation: Hai Yuhan, Zhou Zhongyi. SPECTRA EFFECTS OF ANOMALOUS TRANSIENT RESPONSE IN -Si:H FILM[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1985, 7(2): 108-113.

-Si∶H膜中反常瞬态响应的光谱影响

SPECTRA EFFECTS OF ANOMALOUS TRANSIENT RESPONSE IN -Si:H FILM

  • 摘要: 测量夹心结构-Si∶H膜的瞬态响应谱时,发现无论是在低的正向偏压还是在低的反向偏压下,起始部分都出现不正常的尖形脉冲,它的幅度随光波长的增长而减小。零场瞬态谱的研究表明,这种不正常的非传输部分来源于结区,它的升降特点决定于光照时的空间电荷限制光电流。从光电流幅值与光吸收系数的关系式,我们发展了一种确定光学隙的方法。
      关键词:
    •  
  • 海字涵等,电子科学学刊,5(1983), 361.[2]T. Datta and M. Silver,J.Phys., Colloq. C-4, 42(1981), 563.[3]海字涵,周忠毅,电子学通讯,4(1982), 248.[4]A. Many et al., Phys. Rev., 126(1962), 1980.[5]P. Mark et al., J. Appl. Phys., 33(1962), 205.[6]A. Rose, Concepts in Photoconductivity and Allied Problems, John Wiley Sons, Inc., 1963, p. 77.[7]R. Willians et al., RCA Rev., 40(1979), 371.[8]H. Fritzsche et al., Solid State Technology, Jan. 1978, 55.[9]R. J. Loveland et al.,J.Non-cryst. Sol., 13(1973/74), 55.
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出版历程
  • 收稿日期:  1983-07-22
  • 修回日期:  1984-09-28
  • 刊出日期:  1985-03-19

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