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线性电路K故障诊断法的有效范围

吴耀 童诗白

引用本文: 吴耀, 童诗白. 线性电路K故障诊断法的有效范围[J]. 电子与信息学报, 1989, 11(2): 113-120. shu
Citation:  Wu Yao, Tong Shihai. THE EFFECTIVE RANGE OF K-FAULT DIAGNOSIS OF LINEAR CIRCUIT[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1989, 11(2): 113-120. shu

线性电路K故障诊断法的有效范围

摘要: 在使用K故障诊断法时,为提高电路的可诊断性,可以采取诸如增加可及节点,或改变激励点,增加激励和测量次数等办法。本文对这些措施的有效性,以及如何增加可及节点问题进行了详细的讨论,特别着重对比较有效的多激励法进行研究,给出了用多激励法进行诊断时,电路可K故障支路诊断的条件。

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文章相关
  • 收稿日期:  1987-12-14
  • 录用日期:  1988-04-22
  • 刊出日期:  1989-03-19
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
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    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

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