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砷化镓共面波导内部微波信号的电光取样检测

贾刚 衣茂斌 孙伟 曹杰 孙建国 王佳生 秦莉 高鼎三

贾刚, 衣茂斌, 孙伟, 曹杰, 孙建国, 王佳生, 秦莉, 高鼎三. 砷化镓共面波导内部微波信号的电光取样检测[J]. 电子与信息学报, 1995, 17(2): 197-200.
引用本文: 贾刚, 衣茂斌, 孙伟, 曹杰, 孙建国, 王佳生, 秦莉, 高鼎三. 砷化镓共面波导内部微波信号的电光取样检测[J]. 电子与信息学报, 1995, 17(2): 197-200.
Jia Gang, Yi Maobin, Sun Wei, Cao Jie, Sun Jianguo, Wang Jiasheng, Qin Li, Gao Dingsan. ELECTROOPTIC SIMPLING OF INTERNAL MICROWAVE SIGNALS IN GaAsCOPLANAR WAVEGUIDES[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1995, 17(2): 197-200.
Citation: Jia Gang, Yi Maobin, Sun Wei, Cao Jie, Sun Jianguo, Wang Jiasheng, Qin Li, Gao Dingsan. ELECTROOPTIC SIMPLING OF INTERNAL MICROWAVE SIGNALS IN GaAsCOPLANAR WAVEGUIDES[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1995, 17(2): 197-200.

砷化镓共面波导内部微波信号的电光取样检测

ELECTROOPTIC SIMPLING OF INTERNAL MICROWAVE SIGNALS IN GaAsCOPLANAR WAVEGUIDES

  • 摘要: 本文报道了共轴反射式电光取样系统。该系统时间分辨率不低于20ps,空间分辨率不低于3m。用它检测了砷化镓共面波导内部的微波信号。这套系统将被应用于砷化镓高速集成电路内部特性的在片检测。
  • Weingarten K J, Rodwell M J W, Bloom D M. IEEE J. of QE, 1988, QE-24(2): 198-220.[2]Weisenfeld J, M. IBM J. Res. Develop., 1990, 34(2/3): 141-161.[3]Shinagawa M, Magatsuma T. Electron[J].Lett.1990, 26(17):1341-1343[4][4][5]Nagatsuma T, Shinagawa M. Electron. Lett., 1991. 27(21): 1904-1905.
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出版历程
  • 收稿日期:  1993-09-14
  • 修回日期:  1994-04-05
  • 刊出日期:  1995-03-19

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