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高温CMOS数字集成电路的瞬态特性分析

柯导明 柯晓黎 冯耀兰 童勤义

柯导明, 柯晓黎, 冯耀兰, 童勤义. 高温CMOS数字集成电路的瞬态特性分析[J]. 电子与信息学报, 1994, 16(1): 8-17.
引用本文: 柯导明, 柯晓黎, 冯耀兰, 童勤义. 高温CMOS数字集成电路的瞬态特性分析[J]. 电子与信息学报, 1994, 16(1): 8-17.
Ke Daoming, Feng Yaolan, Tong Qinyi, Ke Xiaoli. TRANSIENT CHARACTERISTIC ANALYSIS OF HIGH TEMPERATURE CMOS DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1994, 16(1): 8-17.
Citation: Ke Daoming, Feng Yaolan, Tong Qinyi, Ke Xiaoli. TRANSIENT CHARACTERISTIC ANALYSIS OF HIGH TEMPERATURE CMOS DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1994, 16(1): 8-17.

高温CMOS数字集成电路的瞬态特性分析

TRANSIENT CHARACTERISTIC ANALYSIS OF HIGH TEMPERATURE CMOS DIGITAL INTEGRATED CIRCUITS

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    出版历程
    • 收稿日期:  1992-06-29
    • 修回日期:  1993-09-06
    • 刊出日期:  1994-01-19

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