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II-VI族半导体特性参数的三维边缘元分析

徐善驾 盛新庆 贾冬焱

徐善驾, 盛新庆, 贾冬焱. II-VI族半导体特性参数的三维边缘元分析[J]. 电子与信息学报, 1999, 21(1): 110-114.
引用本文: 徐善驾, 盛新庆, 贾冬焱. II-VI族半导体特性参数的三维边缘元分析[J]. 电子与信息学报, 1999, 21(1): 110-114.
Xu Shanjia, Sheng Xinqing, Jia Dongyan. 3-D EDGE-ELEMENT ANALYSIS FOR THE CHARACTERISTIC PARAMETERS OF II-VI SEMICONDUCTOR MATERIALS[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1999, 21(1): 110-114.
Citation: Xu Shanjia, Sheng Xinqing, Jia Dongyan. 3-D EDGE-ELEMENT ANALYSIS FOR THE CHARACTERISTIC PARAMETERS OF II-VI SEMICONDUCTOR MATERIALS[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1999, 21(1): 110-114.

II-VI族半导体特性参数的三维边缘元分析

3-D EDGE-ELEMENT ANALYSIS FOR THE CHARACTERISTIC PARAMETERS OF II-VI SEMICONDUCTOR MATERIALS

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    出版历程
    • 收稿日期:  1997-07-11
    • 修回日期:  1998-02-12
    • 刊出日期:  1999-01-19

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