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非晶硅少子扩散长度的测量

徐乐 刘启一

徐乐, 刘启一. 非晶硅少子扩散长度的测量[J]. 电子与信息学报, 1984, 6(3): 247-249.
引用本文: 徐乐, 刘启一. 非晶硅少子扩散长度的测量[J]. 电子与信息学报, 1984, 6(3): 247-249.
Xu Le, Liu Qi-Yi. MEASUREMENT OF DIFFUSION LENGTH OF HOLES IN a-Si:H[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1984, 6(3): 247-249.
Citation: Xu Le, Liu Qi-Yi. MEASUREMENT OF DIFFUSION LENGTH OF HOLES IN a-Si:H[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1984, 6(3): 247-249.

非晶硅少子扩散长度的测量

MEASUREMENT OF DIFFUSION LENGTH OF HOLES IN a-Si:H

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    出版历程
    • 收稿日期:  1983-11-11
    • 刊出日期:  1984-05-19

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