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TEM分析用的半导体横截面样品的制备和分析的结果

范荣团

范荣团. TEM分析用的半导体横截面样品的制备和分析的结果[J]. 电子与信息学报, 1990, 12(6): 656-659.
引用本文: 范荣团. TEM分析用的半导体横截面样品的制备和分析的结果[J]. 电子与信息学报, 1990, 12(6): 656-659.
Fan Rongtuan. PREPARATION OF CROSS-SECTIONAL SPECIMEN OF SEMICONDUCTOR FOR TEM AND ANALYTICRESULTS[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1990, 12(6): 656-659.
Citation: Fan Rongtuan. PREPARATION OF CROSS-SECTIONAL SPECIMEN OF SEMICONDUCTOR FOR TEM AND ANALYTICRESULTS[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 1990, 12(6): 656-659.

TEM分析用的半导体横截面样品的制备和分析的结果

PREPARATION OF CROSS-SECTIONAL SPECIMEN OF SEMICONDUCTOR FOR TEM AND ANALYTICRESULTS

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    出版历程
    • 收稿日期:  1988-12-22
    • 修回日期:  1990-07-19
    • 刊出日期:  1990-11-19

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