高级搜索

超高频射频识别近场系统互耦效应中频率偏移研究

何怡刚 佘培亮 佐磊 张超群

引用本文: 何怡刚, 佘培亮, 佐磊, 张超群. 超高频射频识别近场系统互耦效应中频率偏移研究[J]. 电子与信息学报, 2019, 41(3): 602-610. doi: 10.11999/JEIT180375 shu
Citation:  Yigang HE, Peiliang SHE, Lei ZUO, Chaoqun ZHANG. Study on Frequency Shift in Mutual Coupling Effect of Ultra-high-frequency Radio Frequency IDentification Near-field System[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 2019, 41(3): 602-610. doi: 10.11999/JEIT180375 shu

超高频射频识别近场系统互耦效应中频率偏移研究

    作者简介: 何怡刚: 男,1966年生,教授,博士生导师,研究方向为射频识别技术、高速低压低耗集成电路、物联网技术、混合信号电路与系统测试与诊断等;
    佘培亮: 男,1993年生,硕士生,研究方向为射频识别技术和标签集成电路设计与测试等;
    佐磊: 男,1982年生,副教授,硕士生导师,研究方向为射频识别技术、物联网技术、信号处理及智能电网等;
    张超群: 女,1994年生,硕士生,研究方向为射频识别技术和物联网技术等
    通讯作者: 何怡刚,18655136887@163.com
  • 基金项目: 国家自然科学基金(51577046, 51637004),国家重点研发计划(2016YFF0102200)

摘要: 在超高频射频识别(UHF RFID)系统近场(NF)密集标签应用中,由于微带标签天线的结构特点,传统线圈间互阻抗表达式在预估系统频率偏移等互耦效应问题方面误差较大,精确性不够。首先,基于变压器模型,从无线电能传输的角度推导了近场密集标签间的互阻抗表达式。然后,结合近场电感耦合型标签,通过建立电磁仿真模型间接获取有关电气参数值。最后,验证推导公式并从影响双标签间互阻抗的环境因素角度去研究UHF RFID近场频率偏移问题。测试结果表明,当标签间距小于30 mm时,推导的互阻抗表达式应用于频率偏移计算误差范围为1.6~7.3 MHz。研究结果为基于标签间互阻抗预估UHF RFID近场标签间的互耦效应问题提供了参考依据。

English

图(15)表(1)
计量
  • PDF下载量:  41
  • 文章访问数:  443
  • HTML全文浏览量:  392
文章相关
  • 通讯作者:  何怡刚, 18655136887@163.com
  • 收稿日期:  2018-04-24
  • 录用日期:  2018-09-10
  • 网络出版日期:  2018-09-21
  • 刊出日期:  2019-03-01
通讯作者: 陈斌, bchen63@163.com
  • 1. 

    沈阳化工大学材料科学与工程学院 沈阳 110142

  1. 本站搜索
  2. 百度学术搜索
  3. 万方数据库搜索
  4. CNKI搜索

/

返回文章