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处理器可靠性约束的电压频率岛NoC能耗优化

张剑贤 周端 杨银堂 赖睿 高翔

张剑贤, 周端, 杨银堂, 赖睿, 高翔. 处理器可靠性约束的电压频率岛NoC能耗优化[J]. 电子与信息学报, 2011, 33(9): 2205-2211. doi: 10.3724/SP.J.1146.2010.01266
引用本文: 张剑贤, 周端, 杨银堂, 赖睿, 高翔. 处理器可靠性约束的电压频率岛NoC能耗优化[J]. 电子与信息学报, 2011, 33(9): 2205-2211. doi: 10.3724/SP.J.1146.2010.01266
Zhang Jian-Xian, Zhou Duan, Yang Yin-Tang, Lai Rui, Gao Xiang. Energy Optimization of NoC Based on Voltage-frequency Islands under Processor Reliability Constraints[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 2011, 33(9): 2205-2211. doi: 10.3724/SP.J.1146.2010.01266
Citation: Zhang Jian-Xian, Zhou Duan, Yang Yin-Tang, Lai Rui, Gao Xiang. Energy Optimization of NoC Based on Voltage-frequency Islands under Processor Reliability Constraints[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 2011, 33(9): 2205-2211. doi: 10.3724/SP.J.1146.2010.01266

处理器可靠性约束的电压频率岛NoC能耗优化

doi: 10.3724/SP.J.1146.2010.01266
基金项目: 

国家杰出青年科学基金(60725415)和国家自然科学资金(60676009, 90407016, 60902080)资助课题

Energy Optimization of NoC Based on Voltage-frequency Islands under Processor Reliability Constraints

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    出版历程
    • 收稿日期:  2010-11-19
    • 修回日期:  2011-06-09
    • 刊出日期:  2011-09-19

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