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用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究

成玉 马安国 蒋江 唐遇星 张民选

成玉, 马安国, 蒋江, 唐遇星, 张民选. 用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究[J]. 电子与信息学报, 2011, 33(11): 2753-2758. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00137
引用本文: 成玉, 马安国, 蒋江, 唐遇星, 张民选. 用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究[J]. 电子与信息学报, 2011, 33(11): 2753-2758. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00137
Cheng Yu, Ma An-Guo, Jiang Jiang, Tang Yu-Xing, Zhang Min-Xuan. Research on Reliability Evaluation of Memories for Low-cost Fault Tolerant Design[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 2011, 33(11): 2753-2758. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00137
Citation: Cheng Yu, Ma An-Guo, Jiang Jiang, Tang Yu-Xing, Zhang Min-Xuan. Research on Reliability Evaluation of Memories for Low-cost Fault Tolerant Design[J]. Journal of Electronics and Information Technology, 2011, 33(11): 2753-2758. doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00137

用于低开销容错设计的存储部件可靠性评估研究

doi: 10.3724/SP.J.1146.2011.00137
基金项目: 

国家自然科学基金(60873016, 60970036)和国家 863 计划项目(2009AA01Z124, 2009AA01Z102)资助课题

Research on Reliability Evaluation of Memories for Low-cost Fault Tolerant Design

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    出版历程
    • 收稿日期:  2011-02-24
    • 修回日期:  2011-07-28
    • 刊出日期:  2011-11-19

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